会员登录 - 用户注册 - 设为首页 - 加入收藏 - 网站地图 我国光谱芯片研发新打破:实测分辨率达 68000,可用于地理观测等!

我国光谱芯片研发新打破:实测分辨率达 68000,可用于地理观测等

时间:2025-05-22 03:04:05 来源:锐评时讯 作者:经济 阅读:316次

4 月 9 日音讯,中国科学院南京地理光学技能研究所地理光子学团队与上海理工大学团队协作,研制出“。级联相位调制波导阵列光谱芯片。”,实测分辩率达 68000,并选用光谱重构算法,将光谱对比度提升至 20dB。

该光谱芯片兼具高分辩、高精度及宽波段等特征,在地理观测、空间勘探等场景具有重要使用远景。。该效果于 3 月 23 日宣布在学术期刊 Chinese Optics Letters 上,博士研究生仲韵贤为榜首作者,地理光子学团队负责人何晋平研究员与上海理工大学冯吉军教授为一起通讯作者。

效果介绍显现,集成光子光谱仪可认为地理观测供给。新一代低成本、高度集成、高性能的光学终端仪器。。但是,这些光谱仪仍面临高光谱分辩率的应战。该效果展现了一种级联相调制波导阵列(CPMWA)光谱仪,其规划和丈量的光谱分辩率分别为 100,000 和 68,000。提出了一种光谱重建办法,以最小化芯片制作过程中引进的相位差错的影响,并将光谱对比度提高到 20dB。此类光谱仪在地理高分辩率光谱观测方面展现出杰出的潜力。

▲ CPMWA 芯片结构示意图。
▲ CPMWA 光谱仪的试验设备。MO,显微镜物镜;SL,球面透镜。

附论文链接:

https://www.researching.cn/articles/OJ557aee8b523db733。

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(责任编辑:生活)

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